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荧光光谱测厚仪性能优势

简要描述:荧光光谱测厚仪性能优势操作技术是一款设计结构紧凑,模块精密化程度*的镀层测厚仪,采用了下照式C型腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。

  • 产品型号:XTU-50A
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-03-18
  • 访  问  量:509

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详细介绍


荧光光谱测厚仪性能优势

选择荧光光谱测厚仪的四大理由:

1.一机多用,无损检测

2.最小测量面积0.002mm²

3.可检测凹槽0-30mm的异形件

4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测

单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可精准分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用:不同层有相同元素,也可精准测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,第一层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。



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1. 元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)

2. 涂镀层分析范围:氯(Cl)/锂(Li)- 铀(U)

3. 厚度低检出限:0.005μm

4. 成分低检出限:1ppm

5. 最小测量直径0.2mm(最小测量面积0.03mm²)

6. 对焦距离:0-30mm

7. 样品腔尺寸:500mm*360mm*215mm

8. 仪器尺寸:550mm*480mm*470mm

9. 仪器重量:45KG

10. XY轴工作台移动范围:50mm*50mm

11. XY轴工作台最大承重:5KG

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荧光光谱测厚仪操作技术

  • 快速精准移动定位:高精密微型移动滑轨,10-30mm(X-Y)/圈,精度0.005mm

  • 微焦X射线装置:检测面积可小于0.002mm²的样品,可测试各微小的部件

  • 高效率正比接收器:即使测试0.01mm²以下的样品,几秒钟也能达到稳定性

  • 变焦装置计算法:可对各种异形凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm

  • 对焦方便:下照式设计可以快速定位对焦样品

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荧光光谱测厚仪性能优势应用领域:

广泛应用于电镀镀层厚度分析、接插件等电子元器件检测、紧固件行业、五金行业(家用设备及配件等,如Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS))、汽车零部件、配饰厚度分析、新能源行业(光伏焊带丝等)、汝铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、电镀液的金属阳离子检测等多种领域。


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